电磁干扰（EMI）测试：
辐射骚扰测试（RE）：参考标准为 EN55032，主要测量智能锁在运行过程中向周围空间辐射的电磁波强度，确保其不会对附近的无线通信设备等造成干扰。
传导骚扰测试（CE）：标准同样是 EN55032，用于检测智能锁通过电源线、信号线等传导介质向外部传输的电磁干扰信号，避免影响同线路其他电器设备的正常运行。
谐波电流测试（Harmonic）：依据 IEC 标准，测试智能锁接入电网后产生的谐波电流，防止其对电网造成谐波污染，影响电网的稳定性。
电压变化与闪烁测试（Flicker）：按照 IEC 标准，评估智能锁工作时引起的电网电压变化和闪烁情况，确保不会对连接在同一电网的其他设备产生不良影响。
电磁抗扰度（EMS）测试：
静电放电抗扰度测试（ESD）：参考 IEC 标准，模拟人体或物体对智能锁放电的情况，检测智能锁在静电干扰下能否正常工作，例如对指纹识别区域、密码键盘等人体易接触部位进行 ±15kV 空气放电，对电源接口、通信接口实施 ±8kV 接触放电。
射频电磁场辐射抗扰度测试（RS）：依据 IEC 标准，将智能锁置于特定强度的射频电磁场中，考察其在电磁波辐射干扰下的工作性能，确保在如移动基站等电磁环境中能正常运行。
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试（EFT）：按照 IEC 标准，模拟开关操作、电机启动等产生的高频电磁脉冲对智能锁的干扰，检测其抗干扰能力，通常会施加 ±2kV 的 100kHz 高频脉冲群。
浪涌抗扰度测试（SURGE）：参考 IEC 标准，模拟雷击等外部电源造成的瞬态过电压，测试智能锁的耐受力和保护措施的适用性，一般线 - 线间施加 1kV 浪涌，线 - 地间施加 2kV 浪涌。
射频场感应的传导骚扰抗扰度测试（CS）：依据 IEC 标准，检测智能锁对通过电源线、信号线等传导进来的射频干扰的抵抗能力，确保其在有射频干扰的环境中不会因传导干扰而出现故障。
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度测试（DIP）：参考 IEC 标准，模拟电网电压暂降、短时中断等异常情况，考察智能锁在这些情况下的工作稳定性和恢复能力。