DLIA工业缺陷微观瑕疵检测系统配套的AI光学筛选一体机,配置高清高速显微成像系统,具备多组光源,适应多种产品外观缺陷检测;使用了动态聚焦与飞拍技术,能以极高速度进行采样与分析,从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测;配合后台的数据统计系统,能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析,为制程优化提供依据。
单价: | 面议 |
发货期限: | 自买家付款之日起 天内发货 |
所在地: | 广东 深圳 |
有效期至: | 长期有效 |
发布时间: | 2024-03-06 04:12 |
最后更新: | 2024-03-06 04:12 |
浏览次数: | 335 |
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DLIA工业缺陷微观瑕疵检测系统配套的AI光学筛选一体机,配置高清高速显微成像系统,具备多组光源,适应多种产品外观缺陷检测;使用了动态聚焦与飞拍技术,能以极高速度进行采样与分析,从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测;配合后台的数据统计系统,能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析,为制程优化提供依据。