【产品名称】
晶彩科技 - Micro OLED In-line & Off-line AOI
【设备规格与特色】
•Micro OLED Wafer检测范围：12吋硅晶圆。
•适用制程：
1. TFE封装（氮气环境）的In-line检查。
2. 封装后TFE/CF的Off-line检查。
3. Cover-Glass与封装后wafer贴合后的检查。
•采用AI AOI智慧检测技术，实现实时缺陷分类，提高检测效能。
•可检测最小缺陷尺寸为0.6微米(μm)，实现高灵敏度检测，确保微小缺陷全面检出。
晶彩科技的Micro OLED In-line & Off-line AOI为12吋硅晶圆设计，适用于Micro OLED制程的多个关键阶段。机台涵盖可应用于TFE封装(氮气环境)下的In-line检查、封装后TFE/CF的Off-line检查，以及Cover-Glass与封装后的Wafer贴合后检查。
【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】
晶彩科技拥有超过24年的丰富光学检量测经验，深耕AOI领域多年，设备多年来获得国内外大厂的采用高度信赖。我们深谙AOI技术的四大核心领域：光学、检测、软件控制、机构，并致力于以匠人之心打造每一台AOI检量测设备，为客户提供可靠的设备与服务。
同时晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光电科技（上海）有限公司」，亦为晶彩科技在中国大陆地区，提供更全面的国际化服务。
【营业据点】
晶彩科技总部位于台湾地区新竹竹北，同时在台中与台南拥有办公室。晶彩科技亦在上海设有分公司晶隼彩光电科技（上海）有限公司，专注处理设备进出口、技术相关之其他设备服务事宜。
为提供中国地区的高效快速的服务，晶彩科技于上海、咸阳、滁州、昆山、重庆、福建、武汉、浙江、广州、长沙、深圳等地设有服务据点，以实现全国范围内客户的快速支持，打造全方位的AOI产业布局。
【晶彩科技检量测设备一览】
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