portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">portant; width: auto !important;">低温试验：主要用于评价在贮存、工作和拆装操作期间，低温条件下对装备的安全性、完整性和性能的影响。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">低温试验分为三个程序：程序1贮存，程序2工作，程序3拆装操作.低温贮存试验若无特殊要求，可选取24小时，低温工作至少温度稳定后保持2小时。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">低温试验技术和方法1.试验目的低温试验用于考核产品在低温环境条件下存储和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验和元器件的筛选试验。2.试验条件按照国标GB2423.1-2008规定如下：（1）非散热试验样品低温试验Ab：温度渐变。（2）散热试验样品低温试验Ad:温度渐变。试验的严酷程度由温度和持续时间确定。温度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">试验温度的允许偏差均为±3℃。持续时间：2h；16h；72h；96h。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">3.试验程序试验Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验，用以确定非散热的电子电工产品（包括元件、设备或其他产品）低温下存储和使用的适应性。将处于室温的试验样品，按正常位置放入试验箱内，开动冷源，使试验箱温度从室温降低到规定试验温度并使试验样品达到温度稳定。箱内温度变化速率为不大于1℃/min（不超过5min时间的平均值）。试验Ad：散热试验样品温度渐变的低温试验，确定散热电子电工产品（包括元器件、设备或其他产品）低温条件下使用的适应性。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">4.有关技术和设备要求（1）有关技术。若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使试验样品温度达到稳定即可；若作为与低温耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间按有关标准规定。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">试验时要注意区分两类试验样品：无人工冷却的试验样品和有人工冷却的试验样品。无人工冷却的试验样品分为无强迫空气循环的试验和有强迫空气循环的试验，无强迫空气循环的试验，是模拟自由空气条件影响的一种试验方法。有强迫空气循环的试验，有两种方法。方法A适用于试验箱足够大，不用强迫空气循环也可满足试验要求，但仅能借助空气循环才能保持箱内的环境温度。方法B用于方法A不能应用的场合，例如，用作试验的试验箱体积太小，当无强迫空气循环就不能符合试验要求的场合。有人工冷却的试验样品，一般可按无强迫空气循环方法进行试验。这三项低温试验对于试验样品的工作性能试验，必须按有关标准规定对试验样品给予通电或电气负载，并检查确定能否达到规定的功能。按要求施加规定的试验条件前，应对样品进行外观及电气和机械性能的初始检测，然后按有关标准的规定在试验期间或结束时加负载和进行中间检测，检测时试验样品不应从试验箱中取出。
portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">按照规定要求进行恢复，后对样品进行外观及电气和机械性能的检测。（2）试验设备要求。试验箱应能够在试验工作空间内保持规定的温度条件，可以采用强迫空气循环来保持温度均匀。为了限制辐射影响，试验箱内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%（按开尔文温度计），且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元器件的直接辐射。