随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长.FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高.本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析,研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合.测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。
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| 有效期至： | 长期有效 |
| 发布时间： | 2023-12-15 11:26 |
| 最后更新： | 2023-12-15 11:26 |
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随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长.FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高.本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析,研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合.测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。