EddyCus lab 2020A 用于电各向异性测量的单点测量装置
用于测量导电层、涂层或基材的电各向异性。
非接触式实时测量
导电薄膜的**测量
隐藏和封装的导电层的表征
测量数据保存和输出功能
EddyCus lab 2020A（各向异性）专门用于测量电各向异性和某些方向的片状电阻。 这对于需要主要在某一方向上导电的功能薄膜来说尤其重要，要达到*高的光学透明度。这种新型设备配备了集成的片状电阻各向异性传感器。这些传感器诱导定向电流进入机器和横移方向。所测得的定向片材电阻被用来**测量电各向异性。这种非接触式测试方法提供实时的结果，避免了耗时的破坏性测试。它被用于各行业的快速测试和系统质量保证。
片状电阻（欧姆/平方米）
机器方向（欧姆/平方米）
横移方向（欧姆/平方米）
组合板电阻（欧姆/平方米）
各向异性
TD/MD之比
各向异性(%)
典型材料
纳米线（Ag, Pt, Au等）。
金属网和网格（铜、金等）。
碳纳米管
纳米棒
测量技术
非接触式涡流传感器
基板：箔、玻璃、晶圆等。
基板面积：8英寸/204毫米x204毫米（三面开放）。
*大样品厚度/传感器间隙：3 / 5 / 10 / 25毫米（由*厚的样品定义）。
片材阻力范围：0.01 – 1,000 欧姆/平方米
在给定的片状电阻范围内的准确度：1 – 5%
各向异性范围（TD/MD：0.33 – 3（根据要求更大）
装置尺寸(W/H/D)：11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mm
重量：10公斤