1范围和目的
本试验:
一为评价二氧化硫污染大气对接触点和连接件的腐蚀作用提供了一种加速试验方法;
一尤其适用于作对比试验;.
不能作为常规腐蚀试验。即,它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为。
注：鉴于从加速腐蚀试验中获得的信息有限.要特别注意GB/T 2424.11给出的本试验导则。并参考GB/T 2424.10。
本试验的目的是:
a) 确定含二氧化硫的气体对贵金属或贵金属镀层的接触点和连接件的接触性能的影响,不包括银和某些银合金组成的元件。
b)检验 无焊料连接件的牢固性及有效性。在所有试验中,连接件暴露于二氧化硫试验气体中而引起其接触电阻的变化可作为主要的性能判据。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注8期的引用文件,其z新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。IEC :2002电子设备连接器 试验和测量 第2-1部分:电连续性和接触电阻试验。
3试验设备
3.1 概述
试验设备包括气候系统.试验箱体.气体传输系统以及测量气体浓度的装置.见附录A。
3.2试验箱
试验箱及其附件所采用的材料不应吸收二氧化硫或与其反应.且不影响试验气体的腐蚀效果。空气和二氧化硫的混合气体可通过足够大直径的管道进出试验箱.经过试验箱的气体总流量能使箱内气
体每小时更换3~5次。箱内的排放气体不允许排人实验室。
试验箱的具体设计(包括试验气体的发生方式)需满足下述条件:
a)试验箱内试验样品所在空间的条件应在规定范围内;
b) 试验样品不应直接经受进入气流的冲击;
c) 试验气体对试样的平均相对速率应为20 m/h~60 m/h(约为6 mm/s~17 mm/s)或是缓慢地
搅拌气体,使气体对所有试验样品的相对速率近似相同;
d) 试验箱内不允许出现凝露现象;
e) 应避免太阳光直射试验箱.且试验箱内的任一暴露表面的光照度(来自日光或白炽灯或荧光。