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Techcomp荧光光谱仪 泰科施普
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发布时间: 2022-12-07 01:37
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荧光光谱仪

随着科学技术的进步,在60年代初发明了半导体探测器以后,对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析。

  由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管,又采用滤光片扣除背景和干扰,其背景偏高,分辨率偏小,使得应用范围受到限制,特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生,产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪,既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF,再加上SDD探测器的使用,不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率,免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险,填补了原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高,分辨率差的缺陷,又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低,这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展,越来越受到广泛关注。



荧光光谱仪用途与安全事项

x射线荧光光谱仪具有广泛的应用,包括火成岩,沉积岩和变质岩学研究土壤调查(例如,测量矿石品位)水泥生产陶瓷和玻璃制造冶金(例如质量控制)环境研究(例如,对空气过滤器上的颗粒物进行分析)石油工业(例如,和石油产品的硫含量)地质和环境研究中的现场分析(使用便携式手持式XRF光谱仪)X射线荧光特别适合涉及以下方面的研究岩石和沉积物中主要元素(Si,Ti,Al,Fe,Mn,Mg,Ca,Na,K,P)的批量化学分析痕量元素的大量化学分析(丰度> 1 ppm; Ba,Ce,Co,Cr,Cu,Techcomp荧光光谱仪价格,Ga,La,Nb,天津Techcomp荧光光谱仪,Ni,Rb,Sc,Sr,Rh,U,V,Y,Zr,Zn)岩石和沉积物-微量元素的检出限通常为百万分之几x射线荧光光谱仪于分析相对较大的样本,通常> 1克可以制成粉末状并有效均质化的材料可获得组成相似,特征明确的标准的材料含有高丰度元素的材料,其吸收和荧光效应得到了很好的理解在大多数情况下,对于岩石,矿石,沉积物和矿物,Techcomp荧光光谱仪公司,样品会被磨成细粉。在这一点上,可以直接进行分析,尤其是在痕量元素分析的情况下。但是,各种元素(尤其是铁)的丰度范围非常广,而粉末状样品中的晶粒尺寸范围也很广,这使得与标准品进行比例比较变得特别麻烦。因此,Techcomp荧光光谱仪报价,通常的做法是将粉末状样品与化学助熔剂混合,然后使用熔炉或煤气燃烧器将粉末状样品熔化。熔化会产生一种均质的玻璃,可以对其进行分析并计算出的元素。




原子荧光光谱仪

原子荧光光度计利用惰性气体气作载气,将气态氢化物和过量氢气与载气混合后,导入加热的原子化装置,氢气和气在火焰装置中燃烧加热,氢化物受热以后迅速分解,被测元素离解为基态原子蒸气,其基态原子的量比单纯加热、锑、铋、锡、硒、碲、铅、锗等元素生成的基态原子高几个数量级。原子荧光分析仪分非色散型原子荧光分析仪与色散型原子荧光分析仪。这两类仪器的结构基本相似,差别在于单色器部分。




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